介質(zhì)損耗試驗是測量小型電容量電氣設(shè)備整體絕緣受潮和老化的一項重要試驗。介質(zhì)損耗角正切值只與介質(zhì)材料本身屬性有關(guān)，與電氣設(shè)備的尺寸和絕緣的結(jié)構(gòu)無關(guān)，所以對介質(zhì)損耗的測量主要是指測量介質(zhì)損耗角正切值。在測量tanδ之前，必須測量絕緣電阻，以確定套管表面是否需要處理，套管本身的絕緣電阻一般都是很高的。

為了消除套管表面受潮對tanδ值的影響，曾經(jīng)采用接屏蔽環(huán)的方法。經(jīng)過幾年應(yīng)用發(fā)現(xiàn)，測得的tanδ值偏小甚至出現(xiàn)負值。經(jīng)分析認為，這種虛假偏小或負值都是由于接屏蔽造成的，此方法應(yīng)該停止使用。介損試驗電壓不能超過測量儀器的*高工作電壓，也不能超過被試品的額定電壓。對串級式電壓互感器采用反接線測量tanδ時，試驗電壓不應(yīng)超過250V。

對于電力變壓器等電容量較大的電氣設(shè)備，全自動油介質(zhì)損耗測試儀采用交流電橋進行tanδ試驗時，應(yīng)考慮容升效應(yīng)，試驗電壓應(yīng)在高壓側(cè)直接測量，還應(yīng)注意試驗變壓器的容量是否合適；介質(zhì)損耗測試儀接地端子必須可靠接地。

接線方法：當被測試設(shè)備的低壓測量端對地絕緣時，可以采用該接線法測量。高壓電纜HVx的屏蔽線接被試設(shè)備高壓端；低壓電纜Cx的低壓芯線接被試設(shè)備低壓端L；Cx的低壓屏蔽線接被試設(shè)備屏蔽端E；當被測試設(shè)備的低壓端對地無法絕緣時或接地時，可以采用反接線法測量；高壓電纜HVx的高壓芯線接被試設(shè)備高壓端；HVx的屏蔽線懸空。