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簡要描述:LJD-B型 陶瓷材料介電常數(shù)測試儀 是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切 tanδ 及介電常數(shù)(ε ),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
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機(jī)臺型號:LJD-B型 陶瓷材料介電常數(shù)測試儀
一、概述:
LJD-B型 陶瓷材料介電常數(shù)測試儀 是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切 tanδ 及介電常數(shù)(ε ),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
二、測試原理:
采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機(jī)作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動設(shè)定,諧振點(diǎn)自動搜索,Q 值量程自動轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至,并保留了原Q 表中自動穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q 值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
本測試裝置是由二只測微電容器組成,平板電容器一般用來夾持被測樣品,園筒電容器是一只分辨率高達(dá) 0.0033pF 的線性可變電容器,配用儀器作為指示儀器,絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q 值變化,由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時,由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。
三、儀器的技術(shù)指標(biāo):
1、Q 值測量范圍:2~1023
2、Q 值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
3、電感測量范圍:自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能 4.5nH-100mH 分別有 0.1μ H、0.5μ H、
2.5μ H、10μ H、50μ H、100μ H、1mH、5mH、10mH 九個電感組成。
4、電容直接測量范圍:1~460pF
5、主電容調(diào)節(jié)范圍: 30~500pF
6、電容準(zhǔn)確度 150pF 以下±1.5pF;150pF 以上±1%
7、信號源頻率覆蓋范圍 10KHz-70MHz (雙頻對向搜索 確保頻率不被外界干擾)另有 LJD-C 頻率范圍 100KHZ-160M
8、型號頻率指示誤差:1*10-6 ±1,Q 值合格指示預(yù)置功能范圍:5~1000 Q 值自動鎖定,無需人工搜索
9、Q 表正常工作條件
a. 環(huán) 境 溫 度 :0℃~+40℃
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
10、其 他
a.消耗功率:約 25W;
b.凈重:約 7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
11、產(chǎn)品配置: a.測試主機(jī)一臺; b.電感一套;c.夾具一 套
四、性能特點(diǎn):
1.平板電容器
極片尺寸:φ38mmφ 50mm
極片間距可調(diào)范圍和分辨率:≥10mm,±0.01mm
2.園筒電容器
電容量線性:0.33pF / mm±0.05 pF
長度可調(diào)范圍和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
3.夾具插頭間距:25mm±1mm
4.夾角損耗角正切值:≤4×10-4(1MHz 時)
5、數(shù)顯電極
五、 維修保養(yǎng):
本測試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測微設(shè)備,所以在使用和保存時要避免振動和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,或者作為定期檢查,要檢測以下幾個指標(biāo):
1.平板電容器二極片平行度不超過 0.02mm。
2.園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過 0.1mm。
3.保證二個測微桿 0.01mm 分辨率。
4.用精密電容測量儀(±0.01pF 分辨率)測量園筒電容器,電容呈線性率,從 0~20mm,每隔 1mm 測試一點(diǎn),要求符合工作特性要求。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)使用方法
一 介電常數(shù)測試方法與步驟
1. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機(jī)測試回路的“電容”兩個端子上。
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2.在主機(jī)電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
3.被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平整。
4.調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。
Σ=D2 / D4
二 介質(zhì)損耗測試方法與步驟
1. 分布容量的測量
機(jī)構(gòu)電容的有效電容為:Cz= C1-C2
分布電容為機(jī)構(gòu)電容CZ和電感分布電容C0(參考電感的技術(shù)說明)的和
電容器損耗角正切為
公式里的C0只是電感的分布電容值,不是主機(jī)軟件顯示的C0
2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機(jī)測試回路的“電容”兩個端子上。
3. 在主機(jī)電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
4. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。
5. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量,使主機(jī)處于諧振點(diǎn)(Q值值)上,然后按一次 主機(jī)上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x,記住厚度D2的值。
6. 取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機(jī)又失去諧振(Q值變?。俑淖冎鳈C(jī)上的主調(diào)電容容量,使主機(jī)重新處于諧振點(diǎn)(Q值值)上。
7. 第二次按下 主機(jī)上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =.x x x x x ,即完成測試。
8. 出錯提示,當(dāng)出現(xiàn)tn = NO 顯示時,說明測試時出現(xiàn)了差錯,發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。
附錄 一
LKI-1電感組
LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個,凡儀器在進(jìn)行測試線圈的分布電容量,電容器的電容量,高頻介質(zhì)損耗,高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時,必須用電感組作輔助工具。
本電感組有較高Q值,能使儀器測量時得到尖銳諧振點(diǎn),因而增加其測量的準(zhǔn)確度,各電感的有關(guān)數(shù)據(jù)如下表:
電感No | 電感量 | 準(zhǔn)確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數(shù)測試頻率 | |
LJD-B | LJD-C | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 180 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 180 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
附錄 二
一 如何測試帶粘性超薄絕緣材料的介電常數(shù)
1 用錫箔紙覆膠在材料的兩面,上下層錫箔紙不能接觸。錫箔紙厚度為DX;
2 超薄材料需要疊加:疊加方式如下
250μ貼合6層后測試;
200μ貼合8層后測試;
175μ貼合9層后測試;
125μ貼合12層后測試;
100μ貼合15層后測試;
75μ貼合20層后測試;
50μ貼合30層后測試。
3 計算公式
Σ=(D2-2*DX)/(D4-2*DX)
4 介質(zhì)損耗系數(shù)測試同理
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